說到微觀，人們的多數印象都是生物微觀世界，其實微觀只是用另一個角度去觀察世界，電化學也存在著微觀世界的觀察者：電化學顯微鏡(SECM)。
 
 

　　關于電化學顯微鏡
 

　　掃描電化學顯微鏡(縮寫SECM)是80年代末由A. J. Bard的小組提出和發展起來的一種掃描探針顯檄鏡技術。它是基于70年代末徽電極(UME)及80年代初掃描隧道顯微鏡(STM)發展而產生出來的一種分辨率介于普通光學顯微鏡與STM之間的電化學現場檢測新技術，其核心是電化學和原位檢測。
 
 

　　SECM的工作原理
 

　　掃描電化學顯微鏡基于電化學原理工作，可測量微區內物質氧化或還原所給出的電化學電流。利用驅動非常小的電極(探針)在靠近樣品處進行掃描，樣品可以是導體、絕緣體或半導體，從而獲得對應的微區電化學和相關信息，目前可達到的分辨率約為幾十納米。

　　SECM的檢測信號是電流或者電位，因而具有化學反應靈敏性，不但可以研究探頭或者基底電極上的異相反應電荷轉移動力學和溶液中的均相反應動力學,甚至可以獲得界面雙電層信息,還可以原位分辨表面微區電化學不均勻性，從而彌補了掃描電鏡等不能直接提供電化學活性信息的不足，這對于腐蝕研究具有重要的意義。
 
 

　　SECM在腐蝕研究的運用
 

　　正如上述所說，因為SECM的特性，SECM在腐蝕中的應用日益受到重視。通常腐蝕研究體系中探針與基底電極距離通過測試逼近曲線，再根據理論*正反饋或者負反饋曲線來獲得。實際上，移動探針的步進馬達或者壓電陶瓷移動距離與真實移動距離不*一致，且在腐蝕研究體系中，逼近曲線也不全是*正反饋或者負反饋響應。因此距離控制對于SECM在腐蝕研究中的應用是基本前提。