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VersaSCAN SKP掃描開爾文探針系統整合定位系統及鎖相放大器技術(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 壓電振動模塊, 電位計和鎢絲探針。
VersaScan微區掃描電化學測試系統是一個建立在電化學掃描探針的設計基礎上的，進行高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區形貌及電化學微區測試系統。它是提供給電化學及材料測試以較高空間分辨率的一個測試平臺。
材料腐蝕的電化學測試方法局限于整個樣品的宏觀測試, 測試結果只反映樣品的不同局部位置的整體統計結果,不能反映出局部的腐蝕及材料與環境的作用機理.為進行局部表面科學研究,微區掃描系統提供了一個新的途徑,并日益得到包括局部腐蝕領域的廣泛應用
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